为加强研究生学术交流活动，推进学术创新，特开通“研究生学术报告预告区”。我校研究生和教师可以在预告区及时发布和了解有关研究生学术报告的信息，届时参加。也可就某学术报告展开专题讨论与交流。
集成电路常常会由于各种原因（静电击穿，电迁移致损坏等等）而失效，准确确认电路失效位置，对于改进优化今后设计方法具有重大意义。本次报告介绍了，通过IV曲线测试和微光显微镜(Emission Microscope, EMMI)对集成电路芯片进行全方位分析，对失效位置进行地毯式检查，能够准确定位出失效点，极大提高电路工程师分析失效原因的效率。