为加强研究生学术交流活动，推进学术创新，特开通“研究生学术报告预告区”。我校研究生和教师可以在预告区及时发布和了解有关研究生学术报告的信息，届时参加。也可就某学术报告展开专题讨论与交流。
荧光寿命成像显微镜（FLIM）根据荧光寿命获取方式的不同可分为时域FLIM和频域FILM。时域FLIM的原理是采用重复的光脉冲激发使样本发出荧光，然后利用门控法、条纹相机法、时间相关单光子计数法（TCSPC）等方法获取荧光强度衰减曲线，最后运用相应的寿命还原算法计算荧光寿命。频域FLIM的原理是采用调制过的激发源激发样本，通过荧光信号的振幅和相位变化估测荧光寿命。时域FLIM和频域FLIM具有各自的特点和优势。在时域中, 荧光衰减更容易实现可视化，而且TCSPC的信噪比比频域法更高，然而，在某些应用领域，特别是对于长寿命的测量，由于不需要超短脉冲激发源，频域FLIM的实现更为简单。